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產(chǎn)品中心
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產(chǎn)品分類(lèi)CLASSIFICATION
振實(shí)密度是指一定量的粉體裝填在特定容器后，以一定的頻率和幅度進(jìn)行振動(dòng)，當(dāng)粉末的體積不再減少時(shí)讀出粉體的體積，然后用粉末的重量除以該體積就得到振實(shí)密度。BT-300系列振實(shí)密度測(cè)試儀是專(zhuān)門(mén)測(cè)試粉體振實(shí)密度的一種儀器，具體包含BT-301（單筒）、BT-302（雙筒）和BT-303（三筒）。
BT-100松裝密度儀是用于一般粉體的松裝密度測(cè)試儀。它依據(jù)中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)—粉塵物性試驗(yàn)方法GB/T16913.3-1997-第三部分：堆積密度的測(cè)定，自然堆積法，該方法一般用于除金屬粉末以外的其它粉體的松裝密度測(cè)試。
EQ-TM106膜厚監(jiān)測(cè)儀是采用石英晶體振蕩原理，結(jié)合*的頻率測(cè)量技術(shù)，進(jìn)行膜厚的在線監(jiān)測(cè)。主要應(yīng)用于MBE、OLED熱蒸發(fā)、磁控濺射等設(shè)備的薄膜制備過(guò)程中，用于對(duì)膜層厚度及鍍膜速率進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。
DX-100 X射線單晶定向儀是光機(jī)電一體化的高科技精密儀器，能快速地測(cè)定天然和人造晶體的晶面，可與各種切割、研磨等加工設(shè)備配套使用，是精密加工制造晶體器件*的儀器。
EQ-RH50-32高通量硬度檢測(cè)儀選用的Equotip Portable Rockwell的測(cè)量原理沿用傳統(tǒng)的洛式硬度靜態(tài)檢測(cè)法，壓頭采用金剛石壓頭。是一款一次測(cè)量樣品數(shù)量可達(dá)32個(gè)的多用硬度儀。
32工位高通量XRF檢測(cè)儀（XRF-S32）是一款高通量XRF（X射線熒光光譜分析）檢測(cè)儀，可一次檢測(cè)多達(dá)32個(gè)樣品，縮短多個(gè)樣品檢測(cè)時(shí)的測(cè)試周期。
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